SF6氣體定量檢漏儀檢漏是測(cè)定高壓電氣設(shè)備SF6斷路器的泄漏率，判斷標(biāo)準(zhǔn)為年漏氣率不大于1%(有的標(biāo)準(zhǔn)是0.5%)。

一、泡沫檢漏法：采用在檢漏部位涂刷肥皂水，看其有無氣泡產(chǎn)生。需要基本知道泄漏部位以后才能進(jìn)行檢漏確認(rèn)，同時(shí)，對(duì)于安全距離不滿足要求的帶電部位無法檢測(cè)，且工作量大，適用性差。

二、定性檢漏法：將檢漏儀探頭沿?cái)嗦菲鞲鬟B接口表面和鋁鑄件表面移動(dòng)，根據(jù)檢漏儀讀書判斷氣體的泄漏情況。此方法工作量大，沒有目的性，若探頭移動(dòng)速度過快，容易錯(cuò)過漏點(diǎn)；檢漏時(shí)受到風(fēng)速影響，泄漏氣體容易被風(fēng)吹走而影響檢漏，同時(shí)對(duì)安全距離不滿足要求的帶電設(shè)備無法檢測(cè)。

三、包扎檢漏法：將充氣設(shè)備包扎起來，經(jīng)過一段時(shí)間后再采用檢漏儀在包扎體內(nèi)部進(jìn)行檢漏，檢查包扎部位的漏氣情況。工作量大，有些部位包扎困難或無法包扎，安全距離不滿足要求的帶電部位無法檢測(cè)，同時(shí)，該方法屬于局部面檢測(cè)，不易快速找準(zhǔn)泄漏點(diǎn)。

四、紅外成像法：是近年來興起的一項(xiàng)新技術(shù)的檢漏方法，但在實(shí)際使用中也會(huì)有一定的局限性。由于紅外成像的檢測(cè)精度不高，微量泄漏根本檢測(cè)不出來，泄漏量大的部位也需要多次調(diào)整焦距，才能找到漏點(diǎn)；另外室內(nèi)GIS設(shè)備安裝較為緊湊，對(duì)內(nèi)部的檢漏較為困難。對(duì)于室外HGIS設(shè)備，由于安裝高度較高，也使得對(duì)設(shè)備頂部、邊沿或隱蔽的地方檢漏較為困難，加上室外風(fēng)速、溫濕度等環(huán)境因素的影響，一些存在輕微滲漏的HGIS設(shè)備就更難以用光學(xué)成像法檢測(cè)出來。

1）局部包扎法：用0.1mm厚的塑料薄膜按密度部位的幾何形狀圍一圈半，接縫向上，盡可能構(gòu)成圓形或方形，經(jīng)整形后用膠帶粘貼密封。塑料薄膜與被測(cè)品應(yīng)保持一定的間隙，一般為5mm左右，包扎后經(jīng)24h測(cè)定包扎腔內(nèi)SF6氣體的濃度，應(yīng)取不同位置四點(diǎn)的平均值。該密封環(huán)節(jié)的漏氣率可用下式計(jì)算：

F=△C×(V-△V)×P/△t MPa·m3/s

式中：F-漏氣率，單位時(shí)間內(nèi)的漏氣MPa·m3/s；

△C-泄漏氣體濃度的測(cè)量平均值，ppm；

△t-測(cè)量△C的間隔時(shí)間，s；

△V-被試品與塑料薄膜間所包圍的容積，m3；

P-大氣壓，為0.1MPa。

每個(gè)氣室的年泄漏率Fy：

Fy=F×31.5×10-6/V×(Pr+0.1)×100%/年

式中：V-氣室內(nèi)SF6氣體的容積，m3；

Pr-額定SF6氣體氣壓，MPa，(表計(jì)值)。

在進(jìn)行以上計(jì)算時(shí)較難確定的是以下參數(shù)：

△V：由于被試品與塑料薄膜間所包圍的容積是不規(guī)則形狀，其容積不能直接計(jì)算取得，可采用試驗(yàn)的方法，利用其它氣體或液體通過流量計(jì)向包扎腔室內(nèi)灌注而取容積數(shù)據(jù)。

V：氣室內(nèi)充注SF6氣體的容積和質(zhì)量，該數(shù)據(jù)廠方都未提供，可在訂貨技術(shù)條件中要求廠方提供準(zhǔn)確數(shù)據(jù)，還可在充氣過程中采用計(jì)量方法來取得較準(zhǔn)確的數(shù)據(jù)。